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孔徑測量

更新時間:2025-01-23

簡要描述:

孔徑測量,可以用於檢定ASME X,XX,XXX級精度的環規,相當於可以檢定國內二等環規。 通過一整套完善的量值傳遞機構可以快速的找到環規的直徑拐點,這其中其大作用的是兩隻消除了摩擦力影響的位移傳感器。

孔徑測量

這是一台在很多校準實驗室采用的標定環規的計量設備,由於其*的設計和可靠的表現至今沒有被其他產品代替。可以用於檢定ASME X,XX,XXX級精度的環規,相當於可以檢定國內二等環規。 通過一整套完善的量值傳遞機構可以快速的找到環規的直徑拐點,這其中其大作用的是兩隻消除了摩擦力影響的位移傳感器。孔徑測量這是一台可以測量百萬分之內外尺寸的儀器,同時可以用來測量一些高精度的盤類零件。

孔徑測量技術描述

  • 測量範圍: 內尺寸: 300mm,外尺寸:279mm

  • 重複精度; ±0.025µm

  • 測頭量程: ±40µm

  • 示值誤差:0.25%量程

  • 測頭材料:金剛石

  • 重量:306kg

  • 儀器高度:1422mm

  • 工作台尺寸:279mm x 406mm

  • 占地尺寸:406mm x 508mm

  • 數字輸出接口RS232C

  • 電源:230V±10%   50-60Hz

 

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